材料
HR-GaAs:Cr“TOP”探测材料
HR-GaAs:Cr 探测材料
高阻铬补偿砷化镓（HR-GaAs:Cr），可在室温下工作，用于直接转换型 X 射线探测器，是 Zeelta 全部产品的基础材料。
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能谱光子计数 X 射线 · HR-GaAs:Cr 技术
Zeelta 基于自有 HR-GaAs:Cr 半导体开发能谱 X 射线技术。传感器对每一个 X 射线光子计数并测量其能量，一次曝光即可同时呈现物体的结构和化学成分。
- 探测材料
- HR-GaAs:Cr，室温工作
- 像素间距
- 最小 35 µm
- 40 keV 时 DQE
- 高于 95%
- 探测方式
- 直接转换，光子计数
产品
从探测材料到数据分析
技术
X 射线从黑白走向彩色
闪烁体探测器已触及物理极限。直接光子计数为每一幅图像增加了新的维度：每个光子的能量。
一次扫描，结构与化学成分兼得
能量分辨计数可显示物体的元素组成，而不仅是形状和密度。
更高的空间分辨率
分辨率取决于像素间距，最小 35 µm。像素间距 110 µm 的闪烁体系统实际只能达到约 330 µm。
更低的剂量
探测量子效率高于 90%，闪烁体加光电元件的组合仅为 35%–40%。对活体样本的伤害更小。
更精细的密度分辨
每个能量通道独立提供约 4,000 级灰度，常规放射摄影仅有 256 级。
应用
应用领域
医学诊断、安全检查、材料研究、采矿、辐射监测和食品质量控制。
工业无损检测
通过元素组成识别铝合金夹杂、涡轮叶片裂纹和复合材料缺陷。
医学诊断
X 射线成为功能性诊断成像：以更低剂量支持临床研究的新方法。
安全检查
行李检查样机已通过 IATA 标准测试组件测试，可区分有机物、金属和危险品。
新闻
最新动态
Zeelta 新网站上线
全新的 zeelta.com 介绍 Zeelta 产品、True Color X-ray 背后的科学原理、公司新闻和投资者资料。
阅读全文HR-GaAs:Cr“TOP”材料面向早期用户开放
Zeelta 向早期用户提供 HR-GaAs:Cr 探测材料，包括探测器制造商、科研团队和医疗团队。
阅读全文Zeelta Oy 在赫尔辛基成立
拥有数十年辐射探测研究经验的团队在芬兰创立 Zeelta Oy，推动 HR-GaAs:Cr 技术走向市场。
阅读全文投资者
投资者与合作伙伴资料
市场、技术、竞争、团队和规划汇集于一份演示文稿。Zeelta 正在筹备种子轮和 A 轮融资。
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- 产品、科研与合作
- vvv@zeelta.com
- 地址
- Zeelta Oy, Annankatu 25 LH 44, 00100 Helsinki, Finland（芬兰赫尔辛基）