True Color X-ray

스펙트럼 광자계수 X선 · HR-GaAs:Cr 기술

Zeelta는 자체 반도체 HR-GaAs:Cr로 스펙트럼 X선 기술을 개발합니다. 센서가 X선 광자를 하나하나 세고 그 에너지를 측정하기 때문에, 한 번의 촬영으로 물체의 구조와 화학 조성을 함께 확인할 수 있습니다.

센서 소재
HR-GaAs:Cr, 상온 동작
픽셀 피치
35 µm부터
40 keV에서 DQE
95% 이상
검출 방식
직접 변환, 광자계수

제품

센서 소재부터 분석까지

전체 제품
소재
HR-GaAs:Cr센서 소재 ‘TOP’

HR-GaAs:Cr 센서 소재

크롬으로 보상한 고저항 갈륨비소입니다. 상온에서 동작하는 직접 변환형 X선 검출기용 소재입니다.

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센서
판독 칩에 플립칩 본딩한 HR-GaAs:Cr 픽셀 센서

X선 센서

스펙트럼 광자계수 검출기용 픽셀형 단일체 HR-GaAs:Cr 센서로, 판독 칩과의 플립칩 본딩을 지원합니다.

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시스템
수하물 검색용 스펙트럼 X선 시스템 시제품

X선 시스템

HR-GaAs:Cr 검출기를 탑재한 비파괴검사 및 보안 검색용 스펙트럼 X선 시스템.

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소프트웨어
터빈 블레이드 표면 균열의 스펙트럼 분석

분석 소프트웨어

비파괴검사용 스펙트럼 영상 분석 소프트웨어: 에너지 채널, 원소 분포도, AI 기반 조성 분석.

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기술

X선, 흑백에서 컬러로

섬광체 검출기는 물리적 한계에 도달했습니다. 광자를 직접 세면 모든 영상에 새로운 차원, 즉 광자 하나하나의 에너지가 더해집니다.

한 번의 스캔으로 구조와 화학 조성을

에너지 분해 계수로 물체의 형태와 밀도뿐 아니라 원소 조성까지 확인할 수 있습니다.

더 높은 공간 분해능

분해능은 픽셀 피치를 따르며 35 µm부터 가능합니다. 픽셀 피치 110 µm의 섬광체 시스템은 실제로 약 330 µm에 그칩니다.

더 낮은 선량

검출 양자 효율 90% 이상. 섬광체와 광전 소자 조합은 35~40%입니다. 생체 시료에 주는 부담이 적습니다.

더 정밀한 밀도 분해능

에너지 채널마다 독립적으로 약 4,000단계의 회색조를 제공합니다. 일반 X선 촬영은 256단계입니다.

작동 원리 보기

적용 분야

활용 분야

의료 진단, 보안, 소재 연구, 광업, 방사선 관리, 식품 품질 관리.

산업용 시료: 알루미늄 합금 속 위험 개재물

산업용 비파괴검사

알루미늄 합금의 개재물, 터빈 블레이드 균열, 복합재 결함을 원소 조성으로 찾아냅니다.

뼈 구조의 스펙트럼 3D X선 영상

의료 진단

X선을 기능 진단 영상으로: 더 낮은 선량으로 임상 연구를 위한 새로운 방법을 제공합니다.

스펙트럼 수하물 검색 시제품

보안

수하물 검색 시제품을 IATA 표준 테스트 키트로 시험해 유기물, 금속, 위험물을 구분했습니다.

뉴스

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투자 정보

투자자 및 파트너용 자료

시장, 기술, 경쟁, 팀, 계획을 하나의 발표 자료에 담았습니다. Zeelta는 시드 및 시리즈 A 투자 유치를 준비하고 있습니다.

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HR-GaAs:Cr 소재, 센서, 스펙트럼 X선 시스템, 공동 연구, 투자에 관한 문의에 영업일 기준 1일 이내에 답변드립니다.

직접 연락처

제품, 연구, 협력
vvv@zeelta.com
주소
Zeelta Oy, Annankatu 25 LH 44, 00100 Helsinki, Finland(핀란드 헬싱키)

이메일로도 문의하실 수 있습니다: vvv@zeelta.com