True Color X-ray能谱光子计数 X 射线 · HR-GaAs:Cr

产品

Zeelta 覆盖能谱 X 射线技术全链条:HR-GaAs:Cr 半导体、由其制成的像素化传感器、基于传感器的 X 射线系统,以及将能谱数据转化为元素分布图的软件。

产品线

材料
HR-GaAs:Cr“TOP”探测材料

HR-GaAs:Cr 探测材料

高阻铬补偿砷化镓(HR-GaAs:Cr),可在室温下工作,用于直接转换型 X 射线探测器,是 Zeelta 全部产品的基础材料。

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传感器
与读出芯片倒装焊接的 HR-GaAs:Cr 像素传感器

X 射线传感器

像素化单片 HR-GaAs:Cr 传感器,用于能谱光子计数探测器,可与读出芯片倒装焊接。

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系统
用于行李检查的能谱 X 射线系统样机

X 射线系统

基于 HR-GaAs:Cr 探测器的能谱 X 射线系统,用于无损检测和安全检查。

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软件
涡轮叶片表面裂纹的能谱分析

分析软件

用于无损检测的能谱图像分析软件:能量通道、元素分布图和 AI 辅助成分分析。

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自有知识产权

产品之间的关系

核心技术基于 Zeelta 的专有技术。GaAs 晶体生长等标准环节由成熟的外部供应商完成。

  1. GaAs:Cr 材料经铬补偿的半绝缘 GaAs:基础材料。
  2. HR-GaAs:Cr 晶片各种尺寸的高阻晶片:基础部件。
  3. 像素化传感器带金属触点、可倒装焊接的位置和能量敏感传感器。
  4. 探测器、系统、软件传感器加读出 ASIC,与分析软件集成为系统。

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请告诉我们您的应用、传感器尺寸和能量范围。使用联系表单或发邮件至 vvv@zeelta.com。